FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測試儀

德國菲希爾 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測試儀

XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品介紹

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準直器的使用提高了信號計數率，使儀器可以達到ji小的重復精度和很低的測量下限。XUV適合測量很薄的鍍層和痕量分析。

在測量的同時，可以直觀地查看測量點的影像。儀器測量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺，既適合測量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復雜的樣品。并且使得連續測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置，進一步方便了樣品的快速定位。

基于儀器的通用設計以及真空測量箱所帶來的擴展的測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發，也適合過程控制和實驗室使用。

XUV® 773 X射線熒光測試儀 商品特點

帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管。最高工作條件：50 kV, 50W

X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器

準直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm

基本濾片：6個，可自動切換

可編程XYZ工作臺

攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點大小。

可在真空，空氣或者氦氣的環境下工作

商品應用

測量輕元素

測量超薄鍍層和痕量分析

常規金屬分析鑒定

非破壞式寶石分析

太陽能光伏產業

德國菲希爾 FISCHERSCOPE® XUV® 773 X射線熒光測試儀實例應用

種類、來源和真實性，是評估寶石價值的本質特征；而寶石材質的分析結果則是影響判斷的決定性因素。通常，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會伴隨有鎂和鈉等元素。另外，Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。

在多個領域的應用中，非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環境中鍍層厚度的測量結果有顯*的提高。使用XUV來測量這些鍍層，重復精度僅幾個納米。